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看了這篇文章,秒知X射線探傷機(jī)是如何工作的?
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性,發(fā)現(xiàn)缺欠的一種無損檢測方法。X射線的波長很短一般為0.001~0.1nm。X射線以光速直線傳播,不受電場和磁場的影響,可穿透物質(zhì),在穿透過程中有衰減,能使膠片感光。X射線可以檢查金屬與非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷。例如焊縫中的氣孔、夾渣。未焊透等體積性缺陷。
X射線是從X射線管中產(chǎn)生的,X射線管是一種兩極電子管。將陰極燈絲通電使之白熾電子就在真空中放出,如果兩極之間加幾十千伏以至兒百千伏的電壓(叫做管電壓)時,電子就從陰極向陽極方向加速飛行、獲得很大的動能,當(dāng)這些高速電子撞擊陽極時。與陽極金屬原子的核外庫侖場作用,放出X射線。
當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時,由于射線與物質(zhì)的相互作用,將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過程,其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,強(qiáng)度相應(yīng)減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實質(zhì)是根據(jù)被檢驗工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對射線能量衰減程度不同,而引起射線透過工件后強(qiáng)度差異,使感光材料(膠片)上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影,經(jīng)過暗室處理后獲得缺欠影像,再對照標(biāo)準(zhǔn)評定工件內(nèi)部缺欠的性質(zhì)和底片級別。
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